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ÍNDICE

  1. Visão Geral
  2. Exemplo de utilização
  3. Tela Cadastro de Conjuntos
    1. Principais Campos e Parâmetros
  4. Tabelas utilizadas


01. VISÃO GERAL

Tela para cadastros dos conjuntos e subconjuntos de MIS.


02. EXEMPLO DE UTILIZAÇÃO

Nesta tela são cadastradas as posições do MIS, conjuntos e subconjuntos, onde serão atrelados os equipamentos da planta industrial.

03. CADASTRO DE CONJUNTO

Com o controle de TAG no conjunto (Utilitários > Configuração > Geral de Safra) a tela é apresentada conforme abaixo.

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Principais Campos e Parâmetros - Detalhe

CampoDescrição
PosiçãoSubdivisão do conjunto, trata-se de um sequencial dentro do conjunto selecionado (Grid superior).
DescriçãoDescrição do subconjunto.
CriticidadeCriticidade do subconjunto, pode ser NÍVEL 1 - CRITICIDADE ALTA, NÍVEL 2 - CRITICIDADE MÉDIA ALTA, NÍVEL 3 - CRITICIDADE MÉDIA, NÍVEL 4 - CRITICIDADE MÉDIA BAIXA, NÍVEL 5 - CRITICIDADE BAIXA

Já com o controle de TAG no subconjunto temos a apresentação conforme abaixo.

...

Principais Campos e Parâmetros - Detalhe

CampoDescrição
Código do subconjuntoSubdivisão do conjunto, trata-se de um sequencial dentro do conjunto selecionado (Grid superior).
DescriçãoDescrição.
TAGTAG. Quando o controle de TAG está no subconjunto.
CriticidadeCriticidade do subconjunto, pode ser NÍVEL 1 - CRITICIDADE ALTA, NÍVEL 2 - CRITICIDADE MÉDIA ALTA, NÍVEL 3 - CRITICIDADE MÉDIA, NÍVEL 4 - CRITICIDADE MÉDIA BAIXA, NÍVEL 5 - CRITICIDADE BAIXA

04. TABELAS UTILIZADAS

  • MCPCONJUNTO, MCPSUBCONJUNTO



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